941. X-ray diffraction topography
المؤلف: Tanner, Brian keith
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: ، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
T36
942. X-ray lasers 2008 :
المؤلف: Ciaran L.S. Lewis, Dave Riley.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: X-ray lasers, Congresses.,Physique.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Lasers & Photonics.,X-ray lasers.
رده :
TA1707
.
I58
2008
943. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : Bowen, D. Keith )David Keith(
موضوع : ، Semiconductors-- Design and construction Quality control,، Integrated circuits-- Measurement,، Semiconductor wafers-- Inspection,، X-rays-- Diffraction,، Fluroscopy
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
944. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
المؤلف: / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Semiconductors--Design and construction--Quality control,Integrated circuits--Measurement,Semiconductor wafers--Inspection,X-rays--Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
945. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
المؤلف: / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: Semiconductors- Design and construction- Quality control,Integrated circuits- Measurement,Semiconductor wafers- Inspection,X-rays- Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
946. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
المؤلف: / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Semiconductors , Design and construction , Quality control,Integrated circuits , Measurement,Semiconductor wafers , Inspection,X-rays , Diffraction,Fluroscopy
رده :
E-BOOK
947. X-ray spectroscopy: An introduction
المؤلف: B. K. Agarwal
المکتبة: (کرمان)
موضوع: X-ray spectroscopy
رده :
QC
482
.
S6
,
A34
1991
948. X-ray spectroscopy: An introduction
المؤلف: B. K. Agarwal
المکتبة: (کرمان)
موضوع: X-ray spectroscopy
رده :
QC
482
.
S6
,
A34
1991
949. X-ray spectroscopy : an introduction
پدیدآورنده : Agarwal, B. K.)Bipin Kumar(
موضوع : ، X-ray spectroscopy
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
950. X-ray spectroscopy : an introduction
المؤلف: Agarwal, B. K.)Bipin Kumar(
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: ، X-ray spectroscopy
رده :
QC
482
.
S6
A34
951. X-ray spectroscopy : an introduction
المؤلف: Agarwal, B. K.)Bipin Kumar(
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: ، X-ray spectroscopy,، Spectrum analysis,، X-rays
رده :
QC
482
.
S6
A34
1991
952. XIPE:
المؤلف: Soffitta, P; Bellazzini, R; Bozzo, E; Burwitz, V; Castro-Tirado, AJ; Costa, E; Courvoisier, T; Feng, H; Gburek, S; Goosmann, R; Karas, V; Matt, G; Muleri, F; Nandra, K; Pearce, M; Poutanen, J; Reglero, V; Sabau Maria, D; Santangelo, A; Tagliaferri, G; Tenzer, C; Vink, J; Weisskopf, MC; Zane, S; Agudo, I; Antonelli, A; et al.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع:
953. Yield Trends Are Insufficient to Double Global Crop Production by 2050.
المؤلف: Ray, Deepak K; Mueller, Nathaniel D; West, Paul C; Foley, Jonathan A
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع:
955. Zdeněk Kopal's binary star legacy /
المؤلف: edited by : Horst Drechsel [and] Miloslav Zejda.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Kopal, Zdeněk,1914-1993.,Kopal, Zdeněk,1914-1993.,Double stars, Congresses.,Astronomie.,Double stars.,Physique.,SCIENCE-- Astronomy.
رده :
QB821
.
Z38
2004eb
958. 5-hydroxytryptamine and related indolealkylamines.
المؤلف:
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع:
رده :
QD305
.
A8
H937
2013
959. Includes bibliographical references and index. 0
المؤلف: edited by María Estela Brisk.
المکتبة: كتابخانه مجلس شوراي اسلامى (طهران)
موضوع:
